• صفحه اصلی
  • مرور
    • شماره جاری
    • بر اساس شماره‌های نشریه
    • بر اساس نویسندگان
    • بر اساس موضوعات
    • نمایه نویسندگان
    • نمایه کلیدواژه ها
  • اطلاعات نشریه
    • درباره نشریه
    • اهداف و چشم انداز
    • اعضای هیات تحریریه
    • همکاران دفتر نشریه
    • اصول اخلاقی انتشار مقاله
    • بانک ها و نمایه نامه ها
    • پیوندهای مفید
    • پرسش‌های متداول
    • فرایند پذیرش مقالات
    • اخبار و اعلانات
  • راهنمای نویسندگان
  • ارسال مقاله
  • داوران
  • تماس با ما
 
  • ورود به سامانه ▼
    • ورود به سامانه
    • ثبت نام در سامانه
  • English
صفحه اصلی فهرست مقالات مشخصات مقاله
  • ذخیره رکوردها
  • |
  • نسخه قابل چاپ
  • |
  • توصیه به دوستان
  • |
  • ارجاع به این مقاله ارجاع به مقاله
    RIS EndNote BibTeX APA MLA Harvard Vancouver
  • |
  • اشتراک گذاری اشتراک گذاری
    CiteULike Mendeley Facebook Google LinkedIn Twitter Telegram
تابش و فناوری هسته ای
مقالات آماده انتشار
شماره جاری
شماره‌های پیشین نشریه
دوره دوره 4 (1396)
دوره دوره 3 (1395)
دوره دوره 2 (1394)
دوره دوره 1 (1393)
شماره شماره 3
شماره شماره 2
شماره شماره 1
ذوالفقارپور, فرهاد, تقی پور نیار, پریسا, عظیم خانی, سارا, نیکوصفت, محمد. (1394). اندازه‌گیری پس‌پراکندگی گامای MeV 662/0 از ضخامت‌های مختلف حفاظ‌های سربی، آلومینیومی و آهنی. تابش و فناوری هسته ای, 1(3), 15-22.
فرهاد ذوالفقارپور; پریسا تقی پور نیار; سارا عظیم خانی; محمد نیکوصفت. "اندازه‌گیری پس‌پراکندگی گامای MeV 662/0 از ضخامت‌های مختلف حفاظ‌های سربی، آلومینیومی و آهنی". تابش و فناوری هسته ای, 1, 3, 1394, 15-22.
ذوالفقارپور, فرهاد, تقی پور نیار, پریسا, عظیم خانی, سارا, نیکوصفت, محمد. (1394). 'اندازه‌گیری پس‌پراکندگی گامای MeV 662/0 از ضخامت‌های مختلف حفاظ‌های سربی، آلومینیومی و آهنی', تابش و فناوری هسته ای, 1(3), pp. 15-22.
ذوالفقارپور, فرهاد, تقی پور نیار, پریسا, عظیم خانی, سارا, نیکوصفت, محمد. اندازه‌گیری پس‌پراکندگی گامای MeV 662/0 از ضخامت‌های مختلف حفاظ‌های سربی، آلومینیومی و آهنی. تابش و فناوری هسته ای, 1394; 1(3): 15-22.

اندازه‌گیری پس‌پراکندگی گامای MeV 662/0 از ضخامت‌های مختلف حفاظ‌های سربی، آلومینیومی و آهنی

مقاله 3، دوره 1، شماره 3، زمستان 1393، صفحه 15-22  XML اصل مقاله (956 K)
نوع مقاله: مقاله پژوهشی
نویسندگان
فرهاد ذوالفقارپور 1؛ پریسا تقی پور نیار2؛ سارا عظیم خانی2؛ محمد نیکوصفت2
1هیات علمی در دانشگاه محقق اردبیلی
2گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران
چکیده
پراکندگی فوتون‌های گاما به سمت عقب از سطح یک ماده را پس‌پراکندگی پرتوهای گاما می‌گویند. در این پژوهش حفاظ‌های سربی، آلومینیومی و آهنی به شکل دیسک به ضخامت تقریباً 1/0 سانتی‌متر و قطر 18 سانتی‌متر ، به‌منظور بررسی پس‌پراکندگی تهیه شدند. همچنین یک چشمه‌ی سزیم 137 بین حفاظ و آشکارساز یدورسدیم قرار داده شد و طیف گامای چشمه ثبت گردید. به‌منظور بررسی تأثیر ضخامت حفاظ در میزان پس‌پراکندگی گاما، در هر مرحله از آزمایش 1/0 سانتی‌متر به ضخامت حفاظ‌ها افزوده شده و در هر بار نیز طیف پرتوی گاما ثبت گردید و مشاهده شد که تغییر ضخامت حفاظ‌ها باعث تغییر سطح زیر بیشینه‌ی پس‌پراکندگی که در حدود انرژی MeV220/0 در طیف گامای ثبت شده مشاهده می‌شود، می‌گردد و در یک ضخامت خاص که ضخامت اشباع نام دارد پس‌پراکندگی به حداکثر ممکن می‌رسد.
ضخامت های اشباع بدست آوده برای سرب ، آهن و آلومینیوم اندازه گیری شده در این پژوهش به ترتیب 0/52 ، 2/4 و بیش از 3 سانتیمتر به دست آمده است.
کلیدواژه‌ها
پس‌پراکندگی؛ آشکارساز یدورسدیم؛ چشمه‌ی گامای سزیم 137
عنوان مقاله [English]
Measurment of backscattering of 0.662 MeV gamma from the various thickness of the lead, iron and aluminum shield
نویسندگان [English]
Parisa Taghipour niar2؛ sara azimkhani2؛ Mohammad Niko sefat2؛
چکیده [English]
The scattering of gamma photons backward from the surface of a material is named as backscattering of gamma rays.in this study, to evaluate the gamma backscattering, various shield of lead, aluminum and iron in the disk form of approximately 0.1 cm thick and a diameter of 18 cm were prepared. There is also a gamma source of cesium 137 were placed between the shield and NaI(Tl) detector and gamma spectra were recorded. In order to study the effect of the thickness of the shield in the amount of gamma backscattering, so at each step of the experiment 0.1 cm thick shield are added and every time the gamma ray spectrum is enrolled and It was observed that change the thickness of the panel is cause to change behind area of the maximum level backscattering (that it can be seen in Approximately energy of 0.250 MeV in the energy of Spectra recorded gamma) and in a certain thickness that has the name saturated thickness the backscattering reach to the maximum possible.
کلیدواژه‌ها [English]
Backscattering, NaI(Tl) detector, Gamma source of cesium 137
آمار
تعداد مشاهده مقاله: 2,072
تعداد دریافت فایل اصل مقاله: 1,111
صفحه اصلی | واژه نامه اختصاصی | اخبار و اعلانات | اهداف و چشم انداز | نقشه سایت
ابتدای صفحه ابتدای صفحه

Journal Management System. Designed by sinaweb.